上?；ジ衅骶C合測試儀PT二次負(fù)荷測試界面 圖35，PT二次負(fù)荷接線圖7、直阻測試： 請參照第14頁CT直阻測試。十.數(shù)據(jù)查詢在CT/PT測試主界面中，選擇進(jìn)入“數(shù)據(jù)查詢”試驗(yàn)界面（如圖36），根據(jù)需要選擇“勵(lì)磁”、“負(fù)荷”、“直阻”、“變比極性”、“角差比差”、“退出”等測試選項(xiàng)，選定測試項(xiàng)目后，進(jìn)入圖39測試界面，顯示儀器中該項(xiàng)目下所保存的的測試結(jié)果，可以選擇 “上頁” 、“下頁”、“轉(zhuǎn)存”、“退出”、“”選項(xiàng)進(jìn)行相應(yīng)操作。轉(zhuǎn)存時(shí)，插上U盤至測試儀通訊口“USB”，在圖37中，點(diǎn)擊“轉(zhuǎn)存”則會將當(dāng)前頁面下所顯示的測試記錄轉(zhuǎn)存進(jìn)入U(xiǎn)盤之中。每條記錄所用時(shí)間約2秒鐘，轉(zhuǎn)存結(jié)束后，界面提示“轉(zhuǎn)存完畢”。圖36圖37十一.PC 機(jī)操作軟件使用說明 11.1將配套光盤放入計(jì)算機(jī)光驅(qū)中，解壓“軟件”至C盤根目錄。11.2首先，安裝“wic_x86_chs.exe”文件，其次，安裝“dotNetFx40_Full_x86_x64.exe”軟件，默認(rèn)安裝地址即可。11.3安裝完畢后，打開“伏安特性”文件夾，選擇打開“VATeXing.exe”操作軟件，如圖38即為上位機(jī)操作軟件。11.4在“VATeXing.exe”操作軟件中，下方選擇互感器種類“CT”或“PT”，應(yīng)用語言“中文”或“英文”。11.5如需生成報(bào)告格式文件，必須載入試驗(yàn)結(jié)果數(shù)據(jù)，具體操作方法如下：a）、將存儲試驗(yàn)數(shù)據(jù)的U盤連接至計(jì)算機(jī)。b）、在圖38中選擇打開“選擇文件”，出現(xiàn)圖39操作窗口，在圖39中可根據(jù)需要載入所需文件。c）、試驗(yàn)結(jié)果數(shù)據(jù)說明：以“A”為開頭的數(shù)據(jù)為勵(lì)磁特性結(jié)果數(shù)據(jù)，以“B”為開頭的數(shù)據(jù)為變比極性結(jié)果數(shù)據(jù)，以“C”為開頭的數(shù)據(jù)為負(fù)荷結(jié)果數(shù)據(jù)，以“D”為開頭的數(shù)據(jù)為直阻結(jié)果數(shù)據(jù)。

上海互感器綜合測試儀 CT一次通流測試界面 、CT一次通流接線圖 6、CT交流耐壓試驗(yàn)1）參數(shù)設(shè)置：　在CT主界面中，選擇“交流耐壓”后，進(jìn)入測試界面（圖18），設(shè)置好設(shè)定電壓值：0～1000V。2）實(shí)驗(yàn)：接線圖見圖19，被測CT二次側(cè)短接與測試儀電壓輸出口K2連接，電壓輸出口另一端K1連接互感器外殼。檢查接線完成后，合上功率開關(guān)，選擇 “開始”選項(xiàng)，按下即開始升壓，電壓保持時(shí)間默認(rèn)為1分鐘，測試過程中，儀器內(nèi)部對互感器二次繞組與外殼之間的漏電流實(shí)時(shí)檢測，如果發(fā)現(xiàn)電流迅速增加，將會自動(dòng)回零，頁面會顯示“不合格”。圖18，CT交流耐壓測試界面 ，CT交流耐壓接線圖7、CT負(fù)荷試驗(yàn)1、參數(shù)設(shè)置：在CT測試主界面中，選擇進(jìn)入“負(fù)荷”試驗(yàn)界面（如圖20），設(shè)置二次側(cè)額定電流： 1A或5A。線電阻：只在測試負(fù)載箱時(shí)使用（按照負(fù)載箱銘牌設(shè)定）2、試驗(yàn)測試儀的K1、K2為電壓輸出端，參照圖21進(jìn)行接線，將被測負(fù)荷（負(fù)載）接測試儀的K1、K2端，檢查接線無誤后，選擇“開始”即開始試驗(yàn)，試驗(yàn)完成后，即顯示負(fù)荷性測試結(jié)果，可以選擇 “保存”打印”及“退出”選項(xiàng)進(jìn)行下一步操作。圖20，CT二次負(fù)荷測試界面 CT二次負(fù)荷接線圖8、直阻測試 、校零：在CT測試主界面中，選擇進(jìn)入“直阻”試驗(yàn)界面（如圖22），試驗(yàn)前應(yīng)先對測試用導(dǎo)線進(jìn)行校零，在CT主界面顯示菜單上通過控制器選中 直阻測試項(xiàng)，進(jìn)入直阻測試界面并選擇“校零”, 校零前將測試導(dǎo)線的線夾對接（測試線短接）（圖23），然后進(jìn)行校零，校零完成后，界面提示“校零完畢、試驗(yàn)：校零結(jié)束后，參照圖24接好測試線，測試儀的D1、D2接被測繞組，選中 “開始” 鍵即開始測試，試驗(yàn)完成后，即顯示直阻測試結(jié)果，可以選擇 “保存打印”及“退出”選項(xiàng)進(jìn)行下一步操作。圖22，直阻測試界面，導(dǎo)線阻值清零接線圖圖24，直阻測試接線圖9.PT測試進(jìn)行電壓互感器功能測試時(shí)，請移動(dòng)光標(biāo)至PT，并選擇相應(yīng)測試選項(xiàng)。1、PT勵(lì)磁特性測試1)、參數(shù)設(shè)置在PT測試主界面中，選擇進(jìn)入“勵(lì)磁”試驗(yàn)界面，勵(lì)磁電流（0～20A）：輸出電流為儀器輸出的設(shè)置電流，如果試驗(yàn)中電流達(dá)到設(shè)定值，將會自動(dòng)停止升流。通常1A即可測試出拐點(diǎn)值。

上海互感器綜合測試儀CT測試8.1、CT勵(lì)磁（伏安）特性測試在CT主界面中，點(diǎn)擊“伏安特性” 選項(xiàng)后，即進(jìn)入測試界面如圖4。 （1）、參數(shù)設(shè)置：勵(lì)磁電流：設(shè)置范圍（0—20A）為儀器輸出的設(shè)置電流，如果實(shí)驗(yàn)中電流達(dá)到設(shè)定值，將會自動(dòng)停止升流，以免損壞設(shè)備。通常電流設(shè)置值大于等于1A，就可以測試到拐點(diǎn)值。勵(lì)磁電壓：設(shè)置范圍（0—3000V）為儀器輸出的設(shè)置電壓，通常電壓設(shè)置值稍大于拐點(diǎn)電壓，這樣可以使曲線顯示的比例更加協(xié)調(diào)，電壓設(shè)置過高，曲線貼近Y軸，電壓設(shè)置過低，曲線貼近X軸。如果實(shí)驗(yàn)中電壓達(dá)到設(shè)定值，將會自動(dòng)停止升壓，以免損壞設(shè)備。（2）、試驗(yàn)：接線圖見界面，測試儀的K1、K2為電壓輸出端，試驗(yàn)時(shí)將K1、K2分別接互感器的S1、S2（互感器的所有端子的連線都應(yīng)斷開）。檢查接線無誤后，合上功率開關(guān)，選擇“開始”選項(xiàng)，即開始測試。試驗(yàn)時(shí)，上方白色狀態(tài)欄會有提示“正在測試”，測試儀開始自動(dòng)升壓、升流，當(dāng)測試儀檢測完畢后，試驗(yàn)結(jié)束并描繪出伏安特性曲線圖。注意：圖4中“校準(zhǔn)”功能：主要用于查看設(shè)備輸出電壓電流值，不用于互感器功能測試，詳情見附錄一。 圖4，CT勵(lì)磁特性測試界面CT伏安特性結(jié)果圖 2）、伏安特性（勵(lì)磁）測試結(jié)果操作說明試驗(yàn)結(jié)束后，顯示出伏安特性測試曲線及數(shù)據(jù)（見圖5）。該界面上各操作功能如下：打 印：點(diǎn)擊“打印”后，先后打印伏安特性（勵(lì)磁）曲線、數(shù)據(jù)，方便用戶做報(bào)告用。同時(shí)減少更換打印紙的頻率，節(jié)省時(shí)間，提率。