安徽淮南局部放電檢測(cè)儀儀器基本操作5.1儀器開啟/關(guān)閉按下按鈕，開機(jī)畫面顯示在屏幕中。若要關(guān)閉儀器，長(zhǎng)按 按鈕。概要信息設(shè)備在進(jìn)入正常運(yùn)行狀態(tài)后，顯示系統(tǒng)主菜單。主菜單界面下顯示有“暫態(tài)地電波超聲波特高頻高頻電流檢測(cè)記錄系統(tǒng)設(shè)置等選項(xiàng)。在界面上方，顯示當(dāng)前時(shí)刻和電池電量狀態(tài)。系統(tǒng)設(shè)置系統(tǒng)設(shè)置界面對(duì)系統(tǒng)的基本信息進(jìn)行瀏覽設(shè)置。?存儲(chǔ)目錄試驗(yàn)過(guò)程中數(shù)據(jù)庫(kù)文件和圖片文件保存的位置。注:記錄數(shù)據(jù)可在“首頁(yè)-檢測(cè)記錄”查看。若新建一個(gè)已存在的目錄，則會(huì)直接將之前目錄中數(shù)據(jù)清空，請(qǐng)謹(jǐn)慎操作。所有數(shù)據(jù)存儲(chǔ)路徑在設(shè)備系統(tǒng)可對(duì)接RFID設(shè)備實(shí)現(xiàn)對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)的智能讀寫操作。?藍(lán)牙設(shè)備搜索并連接周圍可用的藍(lán)牙設(shè)備。?音量調(diào)節(jié)調(diào)節(jié)系統(tǒng)輸出音量大小?日期和時(shí)間修改系統(tǒng)的時(shí)間和顯示日期恢復(fù)出廠設(shè)置將系統(tǒng)中試驗(yàn)過(guò)程中產(chǎn)生的數(shù)據(jù)和圖片進(jìn)行清理，在沒(méi)有導(dǎo)出數(shù)據(jù)之前，請(qǐng)謹(jǐn)慎操作設(shè)備信息軟件版本，硬件版本以及系統(tǒng)發(fā)布日期。測(cè)量TEV試驗(yàn)有4種顯示圖：波形圖，PRPD圖，PRPS圖，統(tǒng)計(jì)圖。在運(yùn)行狀態(tài)下，點(diǎn)擊底部控制區(qū)【顯示方式】鍵切換不同顯示圖（默認(rèn)波形圖顯示）且四種顯示圖同步處理放電數(shù)據(jù)。?標(biāo)題區(qū)正在測(cè)量的通道、測(cè)量模式、同步方式、增益等級(jí)。點(diǎn)擊圖標(biāo)后可進(jìn)行TEV試驗(yàn)相關(guān)參數(shù)設(shè)置。?數(shù)據(jù)區(qū)當(dāng)前測(cè)量過(guò)程中的值、背景值和當(dāng)前值?歷史極值區(qū)當(dāng)前測(cè)量過(guò)程中近的20個(gè)周波的值。?圖表區(qū)波形圖—當(dāng)前測(cè)量數(shù)據(jù)波形，根據(jù)【設(shè)置】中周波數(shù)設(shè)置顯示對(duì)應(yīng)的周波數(shù)目，根據(jù)放電特性來(lái)判斷是否放電，同時(shí)通過(guò)【放大/縮小】鍵可對(duì)波形進(jìn)行放大或縮小調(diào)節(jié)。PRPD圖—二維圖譜，放電相位分布圖譜，顯示放電水平、相位以及峰值頻次的關(guān)系，其中縱軸代表放電水平，橫軸代表相位0-360度，不同的像素顏色代表不同的峰值頻次。PRPS圖—三維圖譜，脈沖序列圖譜，顯示時(shí)間、相位及放電水平的關(guān)系，縱軸代表放電水平，橫軸代表相位，Z軸代表時(shí)間，脈沖不同顏色代表放電水平的大小不同，右側(cè)顏色標(biāo)識(shí)代表縱軸不同的百分比所使用的不同顏色。通過(guò)該模式可以區(qū)分干擾和放電，以及隨時(shí)間變化不同相位信號(hào)的變化。

安徽淮南局部放電檢測(cè)儀常用試驗(yàn)回路和試驗(yàn)形式5.1、常用試驗(yàn)回路（試品接入輸入單元的方法）5.1.1標(biāo)準(zhǔn)接法電路-并聯(lián)法：試品電容Cx與輸入單元并聯(lián)，它適合于必須接地的試品，這個(gè)電路的缺點(diǎn)是試驗(yàn)變的雜散電容和試品電容Cx并聯(lián)，這雜散電容對(duì)于大容量試品來(lái)說(shuō)固然可以忽略，而對(duì)于小電容試品來(lái)說(shuō)容易引起誤差，當(dāng)然，采用正確的獨(dú)立小方波直接校正法可以避免這種誤差。圖二：并聯(lián)法5.1.2、串聯(lián)法：它實(shí)際上是將Cx與Ck互換一下，讓試品電容Cx與輸入單元串聯(lián)，這種電路要求試品低壓端對(duì)地懸浮，其好處是變壓器對(duì)地雜散電容與耦合電容并聯(lián)。在試品電容小于對(duì)地雜散電容時(shí)可以不接耦合電容器，讓對(duì)地雜散電容來(lái)代替Ck，可給試驗(yàn)帶來(lái)簡(jiǎn)便。本電路的主要缺點(diǎn)是試品高壓擊穿時(shí)可能損壞輸入單元。圖三：串聯(lián)法5.1.3、平衡法：它要求兩個(gè)試品相似，至少電容是同一數(shù)量級(jí)，為了使測(cè)量結(jié)果好，兩試品的介質(zhì)損耗角正切，尤其是它們的頻率關(guān)系相同。本電路的優(yōu)點(diǎn)是可以部分抑制外來(lái)干擾，并可變壓器對(duì)地雜散電容的影響，也可比不平衡電路的試驗(yàn)電壓取得高。它的缺點(diǎn)是，除了需要相似的兩個(gè)試品外，當(dāng)產(chǎn)生放電時(shí)，必須辨別是哪個(gè)試品放電。圖四：平衡法5.1.4、橋式法：這種電路的主要優(yōu)點(diǎn)是對(duì)外來(lái)干擾有額外的抑制作用，因?yàn)橥ㄟ^(guò)電橋的平衡來(lái)抑制掉外干擾的影響，抑制比很高。其缺點(diǎn)是試驗(yàn)電路復(fù)雜，限制條件多，對(duì)試驗(yàn)人員技術(shù)水平有較高要求。圖五：橋式法5.2、常用試驗(yàn)形式5.2.1、工頻試驗(yàn)5.2.2、中頻試驗(yàn)5.2.3、工頻串聯(lián)諧振試驗(yàn)圖六：局部放電試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)接法電路（直接法的并聯(lián)法）圖中：A－輸入單元的初級(jí)始端；B－輸入單元的初級(jí)末端，C－輸入單元的初級(jí)中心抽頭，E－輸入單元地。