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以下是:河南漯河CNAS實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可【計(jì)量認(rèn)證】工廠認(rèn)證的圖文介紹


44. 某實(shí)驗(yàn)室申請(qǐng)的酒精中純度和雜質(zhì)檢測(cè)項(xiàng)目,所用的標(biāo)準(zhǔn)為GB***,該國(guó)標(biāo)中雜質(zhì)測(cè)試引用了某行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)SY***,該行標(biāo)是否需要單獨(dú)拿出認(rèn)可?
答:需要單獨(dú)拿出認(rèn)可。
45. 超出預(yù)定范圍使用的標(biāo)準(zhǔn)方法,在能力表述時(shí),何種情況表述為標(biāo)準(zhǔn)方法,何種情況表述為自編方法(標(biāo)準(zhǔn)作業(yè)程序SOP)?
答:①通過方法確認(rèn),能夠按照標(biāo)準(zhǔn)方法標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)/校準(zhǔn)時(shí),可以表述為標(biāo)準(zhǔn)方法。②通過確認(rèn),需要修改采用標(biāo)準(zhǔn)方法時(shí),應(yīng)編制作業(yè)指導(dǎo)書進(jìn)行認(rèn)可。
46. 被認(rèn)可的標(biāo)準(zhǔn)或規(guī)范中,其內(nèi)容較為簡(jiǎn)單,其引用或執(zhí)行其他標(biāo)準(zhǔn)(按項(xiàng)目執(zhí)行),這個(gè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)是否要申請(qǐng)認(rèn)可。
答:要申請(qǐng)認(rèn)可。
47. 關(guān)于標(biāo)準(zhǔn)的表述 申報(bào)的一種參數(shù),是否可以列入不同檢測(cè)方法的標(biāo)準(zhǔn)?例如:申報(bào)“氨基甲酸酯類農(nóng)藥殘留量”參數(shù),在檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)(方法)中列入了氣相色譜-質(zhì)譜法,快速檢測(cè),液相等多種方法。①植物性食品中氨基甲酸酯類農(nóng)藥殘留量的測(cè)定GB/T 5009.104-2003,②動(dòng)物性食品中氨基甲酸酯類農(nóng)藥多
49. 如果以產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)申請(qǐng)認(rèn)可,那么現(xiàn)場(chǎng)評(píng)審時(shí),除了確認(rèn)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中申請(qǐng)的參數(shù)外,對(duì)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中其他內(nèi)容如何評(píng)審能力,還需確認(rèn)嗎?
答:認(rèn)可評(píng)審的是檢測(cè)/校準(zhǔn)能力,對(duì)于產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)需要確認(rèn)的也是實(shí)驗(yàn)室申請(qǐng)的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中涉及的檢測(cè)能力的內(nèi)容,對(duì)于產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中不涉及檢測(cè)能力的內(nèi)容不在認(rèn)可評(píng)審范圍內(nèi)。
50. 以下超范圍使用標(biāo)準(zhǔn)的是否可以認(rèn)可?超范圍使用標(biāo)準(zhǔn)的是否可以作為偏離?是否應(yīng)該作為非標(biāo)方法?認(rèn)可參數(shù)在標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的參數(shù)之外;檢測(cè)對(duì)象在標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的范圍之外;用其他儀器代替的,如用ICP代替原子吸收。
答:以上都屬超范圍使用標(biāo)準(zhǔn),此種情況實(shí)驗(yàn)室應(yīng)按非標(biāo)方法進(jìn)行確認(rèn),評(píng)審組應(yīng)核查非標(biāo)方法確認(rèn)數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性,并對(duì)非標(biāo)方法的技術(shù)可靠性進(jìn)行分析。
51. 很多國(guó)外的法規(guī)被認(rèn)可,這些法規(guī)與檢測(cè)方法無關(guān)聯(lián),實(shí)驗(yàn)室將法規(guī)與自選的檢測(cè)方法捆綁認(rèn)可,暗示CNAS承認(rèn)被捆綁的檢測(cè)方法檢測(cè)結(jié)果符合所列法規(guī)的要求,而那些檢測(cè)方法中并沒有規(guī)定可以檢測(cè)那些物質(zhì)。
答:目前法規(guī)可與檢測(cè)方法標(biāo)準(zhǔn)一同認(rèn)可,但沒有檢測(cè)方法,不能單獨(dú)認(rèn)可法規(guī)。有些法規(guī)出臺(tái)時(shí),一些限定物質(zhì)還沒有具體的檢測(cè)方法,因此實(shí)驗(yàn)室需要選擇合適的方法,并按非標(biāo)方法進(jìn)行確認(rèn)。 CNAS實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可



電磁兼容實(shí)驗(yàn)室都需要配置哪些儀器

CNAS認(rèn)可咨詢 2018-11-22

產(chǎn)品必須符合EMC(電磁兼容)要求,歐洲規(guī)定:銷售違反電磁兼容法令(89/336/EEC)的產(chǎn)品將面臨高額罰款,因此,商家越來越重視產(chǎn)品的電磁兼容性問題,為了降低成本,要根據(jù)公司需求和規(guī)模的不同,組建一個(gè)EMC實(shí)驗(yàn)室,本文介紹建設(shè)公司內(nèi)部EMC測(cè)試設(shè)備的優(yōu)點(diǎn)、缺點(diǎn)和方法。

組建一個(gè)電磁兼容實(shí)驗(yàn)室的小需求取決于公司的需要和財(cái)務(wù)狀況。通常,公司將力求節(jié)省經(jīng)費(fèi)(在設(shè)備和人力資源兩方面),并盡量降低風(fēng)險(xiǎn)。但有一點(diǎn)必須明白,世界上不會(huì)有“低成本、低風(fēng)險(xiǎn)和低EMC技術(shù)”這樣的好事。工程師必須掌握高度的技巧,才可能設(shè)計(jì)出具有相當(dāng)性能的低成本設(shè)備。精度越低的產(chǎn)品,其風(fēng)險(xiǎn)也會(huì)越高。

 

在組建一個(gè)公司內(nèi)部EMC實(shí)驗(yàn)室時(shí),無論其規(guī)模大小如何,都必須遵從一些起碼的指導(dǎo)原則。首先,建成EMC實(shí)驗(yàn)室的房間或地方必須潔凈,沒有無關(guān)物品,完全專用于EMC測(cè)量。只要條件許可, 需要一個(gè)由金屬制成并可靠連接大地的地參考平面;如果條件不允許(如房間不在 層),至少應(yīng)該接保護(hù)地系統(tǒng)。實(shí)驗(yàn)室內(nèi)的所有金屬物體必須可靠接地或予以。電源系統(tǒng)必須“凈化”(在電源進(jìn)入EMC實(shí)驗(yàn)室之前的某處正確接入線濾波器)。

 

EMC測(cè)試設(shè)備的配置


 

1)傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試---需要一臺(tái)頻譜分析儀(或EMI接收器)、電纜和LISN(線阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò),手工制作或外購(gòu)),如果可能的話,還應(yīng)該有一個(gè)屏蔽房間(起碼有一個(gè)屏蔽帳篷)和一張距地面80cm的絕緣桌。

 

2)輻射發(fā)射測(cè)試---需要同樣的頻譜分析儀或EMI接收器、一副天線、電纜和OATS(開放區(qū)域測(cè)試場(chǎng)地或(半)電波暗室);為測(cè)量干擾功率而制作或外購(gòu)的吸收鉗。

 

 

3)諧波測(cè)試(與閃爍測(cè)試)---如果要進(jìn)行完全兼容測(cè)試,則需要專用設(shè)備(專用諧波分析儀);但如果僅為評(píng)估的話,一臺(tái)便攜式諧波分析儀甚至一臺(tái)能進(jìn)行FFT評(píng)估的示波器就足夠了。

 

4)ESD(靜電釋放)抗擾度測(cè)試---只有ESD槍才能可靠評(píng)估該項(xiàng)測(cè)試的結(jié)果。

 

5)輻射電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試---需要與輻射發(fā)射測(cè)試類似的設(shè)備,此外還需要號(hào)發(fā)生器、放大器、衰減器、場(chǎng)強(qiáng)儀,可能還需要一臺(tái)計(jì)算機(jī)。

 

 

6)傳導(dǎo)騷擾抗擾度測(cè)試---需要的設(shè)備與1)和5)類似,另外再加上CND(異種耦合解耦網(wǎng)絡(luò)),但不需要天線。

 

7)電快速瞬變(EFT/Burst)抗擾度測(cè)試。

 

8)浪涌抗擾度測(cè)試。

 

9)電源頻率磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試。

 

10)電壓驟降、短時(shí)中斷與電壓變化抗擾度測(cè)試。

 

從7)到10)的 四項(xiàng)測(cè)試需要專用設(shè)備,這些設(shè)備可從多個(gè)廠商買到。

 

值得注意的是,測(cè)量設(shè)備的制造商和經(jīng)銷商通常提供執(zhí)行不同測(cè)試的包裝和(或)全套裝置,以及有關(guān)如何按照 標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行這些測(cè)試的指導(dǎo)甚至培訓(xùn)。請(qǐng)向近的當(dāng)?shù)劁N售代表查詢?cè)O(shè)備的性能和功用。大部分情況下,設(shè)備都有根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)需求預(yù)設(shè)的測(cè)試程序,請(qǐng)首先閱讀說明手冊(cè)。

 

內(nèi)部預(yù)兼容測(cè)試


 

預(yù)兼容測(cè)試并無定義,但起碼我們有理由假定測(cè)試必須在盡可能接近標(biāo)準(zhǔn)要求的條件下進(jìn)行。

 

1)傳導(dǎo)發(fā)射的測(cè)試

 

多年來,電子產(chǎn)品制造商遇到的困難的問題可能就是在傳導(dǎo)發(fā)射方面,因此本文首先就此進(jìn)行討論。

 

這個(gè)裝置是根據(jù)CISPR22(EN55022)組建的,而且使用的設(shè)備必須符合CISPR16-1的要求。該裝置主要包括:EUT(被測(cè)設(shè)備),如果它是臺(tái)式的,必須安放在一個(gè)距地面80cm高的絕緣桌上;輔助設(shè)備(外設(shè)),按正常使用方式連接,未使用的輸入和輸出必須正確端接,多余的電纜必須截短,或繞成直徑30~40cm的一卷。

 

2)頻譜分析儀(或EMI接收器)

 

在0.15~30MHz的頻率范圍內(nèi)必須具有9kHz的分辨率帶寬(RBW)。測(cè)量過程在CISPR16-1和產(chǎn)品規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)中有詳細(xì)描述,如果正確執(zhí)行,其結(jié)果與第三方實(shí)驗(yàn)室的測(cè)試將

 

3)諧波和閃爍測(cè)試

 

諧波和閃爍測(cè)試沒有環(huán)境方面的要求。只需將EUT連接到諧波分析儀的電源入口,并根據(jù)廠商的說明和標(biāo)準(zhǔn)的要求執(zhí)行測(cè)試即可。同樣,測(cè)試設(shè)備將包含一些已有的設(shè)置,但工程師必須確保這些測(cè)試設(shè)置符合自己產(chǎn)品的標(biāo)準(zhǔn)要求。如果評(píng)估時(shí)使用其他方法(如便攜式電源諧波分析儀),請(qǐng)仔細(xì)閱讀標(biāo)準(zhǔn)要求,然后再評(píng)估測(cè)量結(jié)果。

 

4)ESD抗擾度測(cè)試

 

ESD抗擾度測(cè)試對(duì)于大型設(shè)備可能并不是很重要。但在今天這個(gè)各種產(chǎn)品普遍小型化的時(shí)代,ESD測(cè)試已成為大部分設(shè)備的“關(guān)鍵”EMC測(cè)試之一,例如對(duì)便攜式計(jì)算器、MP3和MD播放器、USB存儲(chǔ)棒、音頻設(shè)備等等。

 

EUT仍然安放在一張絕緣桌上,位于HCP(水平耦合平面,由一種金屬傳導(dǎo)材料制成)上,并通過一個(gè)絕緣抗靜電襯墊與其隔離。VCP(垂直耦合平面)和HCP分別連接到地參考平面,每個(gè)連接端各使用一只470kΩ的電阻。對(duì)于EUT的每個(gè)側(cè)面和VCP、HCP,以及EUT上每個(gè)用手能觸摸到的金屬表面,分別使用鋒利 進(jìn)行接觸放電(直接放電),通常每個(gè)極性5次。對(duì)于機(jī)箱的所有塑料部分,則利用圓形 進(jìn)行空氣放電(間接放電)。

 

5)輻射電磁場(chǎng)抗擾度的測(cè)試

 

輻射電磁場(chǎng)抗擾度的測(cè)試裝置與輻射發(fā)射測(cè)試非常類似,但是在這項(xiàng)測(cè)試中,號(hào)發(fā)生器和功率放大器將饋送給天線,以便在EUT附近產(chǎn)生“均勻電磁場(chǎng)”(±6dB)(在頻率范圍80~1000VSPACE=12HSPACE=12ALT="磁場(chǎng)探針、電場(chǎng)探針和一根管腳探針的實(shí)例。">MHz、AM、1kHz、80%調(diào)制深度下為3V/m或10V/m)。需要注意的是,不同產(chǎn)品的頻率范圍也不相同。

 

6)傳導(dǎo)騷擾抗擾度測(cè)試

 

傳導(dǎo)騷擾抗擾度測(cè)試的目的是在EUT端口輸入建立3V電平(有效值,150kHz~230MHz、AM、1kHz、80%調(diào)制深度)。號(hào)發(fā)生器和功率放大器必須提供足夠的功率,以便CDN能將號(hào)耦合到被測(cè)線。由于測(cè)試項(xiàng)目3)、7)、8)、9)、10)使用的是高度專業(yè)化的設(shè)備,如果實(shí)驗(yàn)室中有這些設(shè)備,工程師無需太多操作,只要正確連接EUT就可以了,重要的任務(wù)是監(jiān)控EUT的工作方式。

 

如何進(jìn)行近場(chǎng)測(cè)試


 

本文前面的介紹部分講過,近場(chǎng)測(cè)試非常適合產(chǎn)品開發(fā)階段。在這個(gè)階段,標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法或許能給出的結(jié)果,但卻無法顯示問題的來源所在。在挑選元件時(shí),有些控制器芯片的輻射要比其他芯片低40dB,或具有更高的抗擾度。即使在產(chǎn)品開發(fā)完成,執(zhí)行兼容測(cè)試未通過之后,標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法也幾乎無法給出有關(guān)問題來源的任何息。在印制板一級(jí),工程師們使用近場(chǎng)測(cè)試探針進(jìn)行測(cè)量,也可能使用缺陷檢測(cè)器等。

 

然而另一方面也必須了解,近場(chǎng)測(cè)試探針(幾乎)不能給出有關(guān)設(shè)備傳導(dǎo)或輻射水平的任何息,其誤差為20~40dB。但近場(chǎng)測(cè)試探針可以保證一點(diǎn):每次使用時(shí),其測(cè)量結(jié)果總要好于前述的各種測(cè)量。為了通過近場(chǎng)測(cè)試探針大致了解產(chǎn)品是否能通過EMC測(cè)試,需要在已經(jīng)確知結(jié)果的樣品上進(jìn)行多次嘗試。

 

一些磁場(chǎng)探針、電場(chǎng)探針和一根管腳探針的例子。它們的優(yōu)點(diǎn)是容易制作,外購(gòu)也相當(dāng)便宜。它們都使用50Ω的電纜,并連接到一臺(tái)(廉價(jià)的)頻譜分析儀。

 

近場(chǎng)探針用來拾取電磁場(chǎng)的全部?jī)蓚€(gè)分量。雖然市場(chǎng)上有一些非常靈敏的電磁場(chǎng)場(chǎng)強(qiáng)儀,但電磁場(chǎng)的近場(chǎng)場(chǎng)強(qiáng)并不太容易測(cè)量。它們無法給出輻射噪聲頻率成分的任何息,但可以方便地指出“問題分量”。近場(chǎng)探針在連接到頻譜分析儀時(shí),還可給出頻率成分息。

 

磁場(chǎng)探針提供一個(gè)與磁射頻(RF)場(chǎng)強(qiáng)成比例的輸出電壓。利用這個(gè)探針很容易找到電路的射頻源。不過,磁場(chǎng)的場(chǎng)強(qiáng)隨距離迅速變化(成三次方關(guān)系)。另外,探針的方向至關(guān)重要,因?yàn)榇艌?chǎng)方向一定是垂直于磁環(huán)路的。前面已經(jīng)指出,探針將不會(huì)給出太多的量化息,但對(duì)于某個(gè)元件(IC、開關(guān)三極管等),隨著探針距離元件越來越近,探針的電壓輸出也將增大。

 

即使周圍有許多元件,通過研究原理圖,設(shè)計(jì)者也可以很容易地辨認(rèn)出噪聲源。如果工程師決定更換元件,他將很容易測(cè)量出更換后的結(jié)果,這使得在開始時(shí)就選擇可靠的元件成為可能。VSPACE=12HSPACE=12ALT="圖4(a)和(b):磁場(chǎng)探針、電場(chǎng)探針和一根管腳探針的實(shí)例。

 

管腳探針允許直接在IC管腳或PCB的細(xì)導(dǎo)線上鑒別噪聲電壓。還能方便地判斷濾波器的效果,盡管只是一種定性的判斷。管腳探針可以在濾波器的前、后分別進(jìn)行接觸測(cè)量,并觀察其效果情況。但工程師必須正確估計(jì)接觸電容,并選擇電容較小的探針(不大于10pF)。

 

電場(chǎng)探針可拾取共模電壓和需要的號(hào)。共模電壓是輻射電壓的一個(gè)重要來源。此外,磁場(chǎng)探針無法拾取電場(chǎng)??梢宰C明,使用全部三種探針是有益和省時(shí)的。

 

本文介紹了擁有公司內(nèi)部EMC測(cè)試設(shè)備的優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)??傮w而言,除了設(shè)備成本、占用空間,以及可能的人員培訓(xùn)這些投入之外,擁有EMC能力并沒有什么不利。無論如何,EMC技術(shù)在產(chǎn)品開發(fā)中必不可少,公司必須以某種方式進(jìn)行這方面的投資(如依靠第三方咨詢公司的服務(wù)),忽視它的代價(jià)將是高昂的

CMA資質(zhì)認(rèn)定、CNAS實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可咨詢指導(dǎo)!




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答:持什么做什么標(biāo)準(zhǔn)!即便是國(guó)內(nèi)也有很多種,做特種設(shè)備就要有特種設(shè)備監(jiān)督管理部門發(fā)的證,做鋼結(jié)構(gòu)就要有特設(shè)或機(jī)械學(xué)會(huì)發(fā)的證,航空海洋都是一樣!水利電力石油等沒有特殊要求時(shí)都已并入特種設(shè)備或者叫質(zhì)檢總局的發(fā)證范圍。此條款在CL14中有明確規(guī)定。
64. 組長(zhǎng)文審20天不夠,還需要被審機(jī)構(gòu)有修改補(bǔ)充的時(shí)間,建議在文審基本合格后在實(shí)施現(xiàn)場(chǎng)評(píng)審。
答:20天是指組長(zhǎng)審查文件,給出審查意見的時(shí)間,不包括被評(píng)審機(jī)構(gòu)整改的時(shí)間。如組長(zhǎng)審查文件發(fā)現(xiàn),存在影響現(xiàn)場(chǎng)評(píng)審的問題,需實(shí)驗(yàn)室整改合格后才能進(jìn)入現(xiàn)場(chǎng)評(píng)審的,可選擇“暫緩實(shí)施現(xiàn)場(chǎng)評(píng)審”。如果存在的問題不影響現(xiàn)場(chǎng)評(píng)審,可與項(xiàng)目主管溝通后,將問題反饋給被評(píng)審機(jī)構(gòu)整改,待現(xiàn)場(chǎng)評(píng)審時(shí)跟蹤整改情況。
65. 現(xiàn)場(chǎng)發(fā)現(xiàn)實(shí)驗(yàn)室主要管理人員或場(chǎng)地或內(nèi)部結(jié)構(gòu)發(fā)生變更,未向CNAS變更手續(xù)。
答:①管理人員等變更未申請(qǐng),開不符合項(xiàng)。②場(chǎng)地或環(huán)境設(shè)施變化未申請(qǐng),則要暫停認(rèn)可資格。
66. 在評(píng)審中會(huì)出現(xiàn)已經(jīng)修訂變更的標(biāo)準(zhǔn),而實(shí)驗(yàn)室申請(qǐng)書中未提出更新,如何處理?
答:首先要了解實(shí)驗(yàn)室為什么沒有申請(qǐng)變更,是實(shí)驗(yàn)室標(biāo)準(zhǔn)跟蹤方面出現(xiàn)了問題,還是由于特殊原因?qū)嶒?yàn)室需要使用作廢標(biāo)準(zhǔn)。如果是前者,由應(yīng)開相應(yīng)不符合項(xiàng),實(shí)驗(yàn)室如果現(xiàn)場(chǎng)提出變更要求,則按WI14-01的相關(guān)規(guī)定處理(6.5.1)。
67. 實(shí)驗(yàn)室直讀光譜等操作指導(dǎo)書“省略”關(guān)鍵環(huán)節(jié),操作人員不能從指導(dǎo)書中得到全部指導(dǎo)內(nèi)容。
答:①當(dāng)時(shí)評(píng)審組與實(shí)驗(yàn)室有爭(zhēng)議。②此為不符合,按CNAS-CL01第5.4.1的要求編制的作業(yè)指導(dǎo)書,不應(yīng)“省略”技術(shù)要求。

CNAS實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可




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