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臺灣絕緣子鹽密度測試儀功能說明5.1主界面按鍵詳解:開始測量 進入測量界面參數(shù)設置 進入?yún)?shù)設置界面查看記錄 進入查看記錄界面本機信息 進入本機信息界面5.2 測量界面按下開始測量按鍵,儀器進入測量模式。如未插電極,儀器提示“請接入電極”。測試完成后按“保存結果”鍵保存結果或“打印結果”鍵打印。界面如下:數(shù)據(jù)詳解:數(shù)據(jù)名稱 測量值 單位 備注鹽密度 自動減去基準值電導率 單位:微西門子每厘米溫度 放置2分鐘溫度穩(wěn)定污穢等級(Q/GDW 1 詳見附錄B。顯示值以灰密度大于2mg/ cm2為前提。污穢等級 詳見附錄A。統(tǒng)一爬電比距 22~25 mm/KV 實際爬電比距大于此值為。按鍵詳解:打印結果 將當前測試的結果直接打印出來保存結果 將當前測試的結果保存5.3 (1)參數(shù)界面(界面1)觸屏按對應條目選擇修改對象,字體背景色為黑色。按“更改參數(shù)設置”鍵進入修改狀態(tài)(界面2)。參數(shù)設置完后選“恢復出廠”會設定成默認參數(shù)。注意,參數(shù)一旦設定完成,下次開機時參數(shù)即為設定值(不再是默認值,除非恢復出廠)。參數(shù)詳細說明:參數(shù)名稱 默認值 取值范圍 單位 備注溶液體積 實際用水量>=表面積*0.2ml表面積 1450 100-9999 cm2 單片絕緣子上下總表面積基準值 0-實際值 原始溶液含鹽量,修改時儀器首先會自動測量。電極常數(shù) 標注實際值 電極上標定的K值帶電系數(shù) 帶電與非帶電ESDD的比值重置時間 標準時間 當前時間出錯時可修改按鍵詳解:更改參數(shù)設置 更改當前選中的對象參數(shù)恢復出廠



天正華意電氣設備(臺灣分公司)擁有 回路電阻測試儀研發(fā)設計隊伍。以“做優(yōu)質(zhì) 回路電阻測試儀產(chǎn)品,創(chuàng)知名品牌”的經(jīng)營理念,努力打造 回路電阻測試儀產(chǎn)品的水平。我公司的 回路電阻測試儀產(chǎn)品品種齊全、交貨及時,如果您在安裝時有什么問題或見解,請及時與我公司售后聯(lián)系,我公司會在24小時內(nèi)幫您解決。 我公司秉承以人為本,注重人才,注重管理。 公司注重技術投資,不斷提高 回路電阻測試儀產(chǎn)品的質(zhì)量和檔次,為公司產(chǎn)品在國際市場上擁有更強的競爭力提供有力保證。


臺灣絕緣子鹽密度測試儀 相關術語:1、參照盤形懸式絕緣子 reference cap and pin insulatorXP-70、XP-160、LXP-70和LXP-160普通盤形懸式絕緣子(根據(jù)GB/T 7253),通常7~9片組成一串用來測量現(xiàn)場污穢度。2、爬電距離 creepage distance在兩個導電部分之間,沿絕緣體表面的短距離。注:水泥或其他非絕緣膠合材料表面不認為是爬電距離的構成部分。如果絕緣子的絕緣件的某些部分覆蓋有高電阻層,則該部分應認為是有效絕緣表面并且沿其上面的距離應包括在爬電距離內(nèi)。3、統(tǒng)一爬電比距 unified specific creepage distance(USCD)絕緣子的爬電距離與其兩端承擔的運行電壓(對于交流系統(tǒng),為相電壓)之比,mm/kV。4、附鹽密度 salt deposit density(SDD)人工涂覆于給定絕緣子表面(不包括金屬部件和裝配材料)上氯化鈉總量除以表面積,mg/cm2。等值附鹽密度 絕緣子單位絕緣表面上的等值附鹽量,mg/cm2。6、不溶物密度(簡稱灰密) )絕緣子單位絕緣表面上清洗的非可溶殘留物總量除以表面積,mg/cm2。7、現(xiàn)場等值鹽度根據(jù)GB/T 4585進行鹽霧試驗時的鹽度。用該鹽度試驗,在相同絕緣子和相同電壓下,產(chǎn)生的泄露電流峰值與現(xiàn)場自然污穢條件下的泄露電流基本相同。8、現(xiàn)場污穢度 s)在適當?shù)臅r間段內(nèi)測量到的污穢嚴重程度ESDD/NSDD或SES的值。9、現(xiàn)場污穢度等級 s將污穢嚴重程度從非常輕到非常嚴重按SPS的分級。10、帶電系數(shù)K1 同形式絕緣子帶電所測ESDD/NSDD(SES)值與非帶電所測值之比,K1一般為 主測量界面圖2.2開機,即為測量頁面,測量工作均在此頁面進行,相關按鈕介紹見下表:按鈕名稱功能“參數(shù)切換至“參數(shù)設置界面記錄切換至“記錄查看界面”“校準”校準鹽密、灰密基準值“攪拌”將溶液污穢物拌勻并測量灰密值“打印打印本次測量結果“保存”保存測試結果到內(nèi)存中



臺灣絕緣子鹽密度測試儀 相關術語:1、參照盤形懸式絕緣子 reference cap and pin insulatorXP-70、XP-160、LXP-70和LXP-160普通盤形懸式絕緣子(根據(jù)GB/T 7253),通常7~9片組成一串用來測量現(xiàn)場污穢度。2、爬電距離 creepage distance在兩個導電部分之間,沿絕緣體表面的短距離。注:水泥或其他非絕緣膠合材料表面不認為是爬電距離的構成部分。如果絕緣子的絕緣件的某些部分覆蓋有高電阻層,則該部分應認為是有效絕緣表面并且沿其上面的距離應包括在爬電距離內(nèi)。3、統(tǒng)一爬電比距 unified specific creepage distance(USCD)絕緣子的爬電距離與其兩端承擔的運行電壓(對于交流系統(tǒng),為相電壓)之比,mm/kV。4、附鹽密度 salt deposit density(SDD)人工涂覆于給定絕緣子表面(不包括金屬部件和裝配材料)上氯化鈉總量除以表面積,mg/cm2。5、等值附鹽密度 equivalent salt deposit density(ESDD)絕緣子單位絕緣表面上的等值附鹽量,mg/cm2。6、不溶物密度(簡稱灰密) non soluble deposit density(NSDD)絕緣子單位絕緣表面上清洗的非可溶殘留物總量除以表面積,mg/cm2。7、現(xiàn)場等值鹽度 site equivalent salinity(SES)根據(jù)GB/T 4585進行鹽霧試驗時的鹽度。用該鹽度試驗,在相同絕緣子和相同電壓下,產(chǎn)生的泄露電流峰值與現(xiàn)場自然污穢條件下的泄露電流基本相同。8、現(xiàn)場污穢度 site pollution severity(SPS)在適當?shù)臅r間段內(nèi)測量到的污穢嚴重程度ESDD/NSDD或SES的值。9、現(xiàn)場污穢度等級 site pollution severity class將污穢嚴重程度從非常輕到非常嚴重按SPS的分級。10、帶電系數(shù)K1 energy coefficient K1同形式絕緣子帶電所測ESDD/NSDD(SES)值與非帶電所測ESDD/NSDD(SES)值之比,K1一般為1.1~1.5。二、功能特點1)具有量程自動切換功能,測量速度快(3s/次)。2)測量范圍大,鹽密范圍0.0001mg/cm2~9.9999mg/cm2。3)中英文界面可自主切換。4)采用480*272(5英寸)彩色觸摸液晶屏幕。5)可直接顯示并打印鹽密度、電導率、溫度、污穢等級、統(tǒng)一爬電比距。6)自動進行溫度補償,直接顯示20℃時的標準電導率和等值附鹽(ESDD)。7)具有自動祛除原溶液含鹽量的功能,降低了對清洗液的要求。8)自動將不帶電測量的鹽密度(ESDD)轉(zhuǎn)換為帶電測量的鹽密度(ESDD)。9)可存儲10萬組記錄,并可將記錄導出至U盤或通過打印機打印。10)可查閱、刪除、導出單條記錄,也可刪除所有記錄。11)內(nèi)置大容量充電鋰電池(2600mAh),適合野外現(xiàn)場使用。

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